環(huán)境應(yīng)力篩選試驗
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發(fā)布時間:2025-07-25 08:49:03 更新時間:2025-07-25 08:02:25
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
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為了確認并排除早期故障,使真實產(chǎn)品的可靠性接近設(shè)計的理想水平,通常在實踐中我們會引入環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ESS—Environment Stress Screen)來進行分析。所謂環(huán)境應(yīng)力篩選,是指在環(huán)境應(yīng)力條件下暴露設(shè)備的薄弱環(huán)節(jié)和工藝缺陷,以便加以糾正而專門設(shè)計的一種試驗方法。
ESS一般分為常規(guī)篩選和定量篩選。
1, 常規(guī)篩選,是指不要求篩選結(jié)果與產(chǎn)品可靠性目標(biāo)和成本閥值建立定量關(guān)系的篩選。篩選方法憑經(jīng)驗確定,以篩選出早期失效為目標(biāo);
2, 定量篩選,是指要求篩選結(jié)果與產(chǎn)品可靠性目標(biāo)和成本閥值建立定量關(guān)系的篩選。引入的主要變量包括缺陷密度、篩選檢出度、析出量或殘留缺陷密度。其核心是實現(xiàn)最經(jīng)濟有效的篩選方式。
目前國內(nèi)企業(yè)廣泛開展的是常規(guī)篩選。
ESS的試驗對象,為元器件和各個組裝等級,下面介紹組件級和單元級的優(yōu)缺點及可篩選出的主要缺陷。
1. 組件級
優(yōu)點:尺寸小,不通電測試,成本低;熱慣性小,溫度變化率較高;能進行比單元級的溫度變化幅度更大的篩選,篩選效率高。
缺點:不通電導(dǎo)致尋找故障效率低;如要通電檢測,則需專門測試設(shè)備,成本將增加;無法篩選單元級、系統(tǒng)級引入的缺陷。
缺陷:漏檢的元器件缺陷;元器件和電路板焊接點分離;焊接缺陷;參數(shù)漂移、超出容差。
2. 單元級及以上組裝級
優(yōu)點:因為不需要專門設(shè)計檢測系統(tǒng),篩選期間易進行通電和檢測,檢測效率高;單元中各級間的接口也能得到篩選;能篩選出各種類型的潛在缺陷;能發(fā)現(xiàn)某些設(shè)計缺陷。
缺點:熱慣性大,溫度變化速率小,溫度循環(huán)時間需加長;要考慮多種元部件的溫度極限,篩選溫度變化幅度減小,篩選率降低;成本高。
缺陷:組件級的連接缺陷;導(dǎo)線連接缺陷;輸入/輸出連接缺陷;單元內(nèi)部電纜缺陷;組裝中使用了以前未經(jīng)篩選組件(如采購的組件等)引入的缺陷。
小結(jié):理論上應(yīng)當(dāng)對各個組裝等級進行逐級ESS,實際工作中則要權(quán)衡技術(shù)和成本等各方面因素,結(jié)合產(chǎn)品確定最佳的篩選方案。如果根據(jù)產(chǎn)品使用情況和其他試驗信息得知故障主要出現(xiàn)在某一組裝等級,則可僅針對該組裝等級進行ESS。通常較為實用的方法是對組件進行溫度循環(huán)篩選,對單元以上等級進行隨機振動試驗。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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