非氣密封固體電解質(zhì)鉭電容器檢測(cè)
1對(duì)1客服專屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測(cè)方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時(shí)間:2025-05-15 15:59:34 更新時(shí)間:2025-05-14 15:59:35
點(diǎn)擊:0
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
非氣密封固體電解質(zhì)鉭電容器作為一種高性能電子元件,廣泛應(yīng)用于航空航天、通信設(shè)備、醫(yī)療儀器等高可靠性領(lǐng)域。其特殊結(jié)構(gòu)采用固體電解質(zhì)代替?zhèn)鹘y(tǒng)液態(tài)電解液,具有體積小、容量大、" />
1對(duì)1客服專屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測(cè)方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時(shí)間:2025-05-15 15:59:34 更新時(shí)間:2025-05-14 15:59:35
點(diǎn)擊:0
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
非氣密封固體電解質(zhì)鉭電容器作為一種高性能電子元件,廣泛應(yīng)用于航空航天、通信設(shè)備、醫(yī)療儀器等高可靠性領(lǐng)域。其特殊結(jié)構(gòu)采用固體電解質(zhì)代替?zhèn)鹘y(tǒng)液態(tài)電解液,具有體積小、容量大、頻率特性好等優(yōu)勢(shì)。然而,非氣密封設(shè)計(jì)在長(zhǎng)期使用中可能面臨濕度滲透、機(jī)械應(yīng)力等環(huán)境挑戰(zhàn),因此需要通過系統(tǒng)化檢測(cè)驗(yàn)證其性能指標(biāo)與可靠性。檢測(cè)過程需覆蓋電性能參數(shù)、環(huán)境適應(yīng)性、機(jī)械強(qiáng)度及長(zhǎng)期穩(wěn)定性等維度,確保產(chǎn)品符合嚴(yán)苛的應(yīng)用場(chǎng)景要求。
1. 電性能檢測(cè):包括容量偏差、損耗角正切值(DF)、等效串聯(lián)電阻(ESR)、漏電流、耐電壓強(qiáng)度等基礎(chǔ)參數(shù)
2. 環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè):溫度循環(huán)試驗(yàn)(-55℃~+125℃)、濕度負(fù)載試驗(yàn)(85℃/85%RH)、高溫存儲(chǔ)特性
3. 機(jī)械性能檢測(cè):端子強(qiáng)度測(cè)試、振動(dòng)耐受性、沖擊試驗(yàn)(1500G/0.5ms)
4. 長(zhǎng)期可靠性檢測(cè):高溫壽命試驗(yàn)(1000小時(shí)@125℃)、阻抗穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)
5. 外觀及結(jié)構(gòu)檢測(cè):封裝完整性、極性標(biāo)識(shí)清晰度、焊接端子氧化情況
? LCR精密測(cè)試儀(頻率范圍1kHz-100kHz)
? 高精度漏電流測(cè)試系統(tǒng)(分辨率達(dá)nA級(jí))
? 恒溫恒濕試驗(yàn)箱(溫控精度±0.5℃)
? 機(jī)械振動(dòng)臺(tái)(頻率范圍5Hz-2000Hz)
? X射線檢測(cè)儀(封裝結(jié)構(gòu)無損檢測(cè))
? 掃描電子顯微鏡(SEM)用于電解質(zhì)微觀分析
1. 電參數(shù)檢測(cè):依據(jù)IEC 60384-3標(biāo)準(zhǔn),在25℃標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下使用四線法測(cè)量ESR
2. 環(huán)境試驗(yàn):按照MIL-STD-202F執(zhí)行溫度循環(huán)測(cè)試,每個(gè)溫區(qū)保持30分鐘,轉(zhuǎn)換時(shí)間≤5分鐘
3. 壽命加速試驗(yàn):基于Arrhenius方程進(jìn)行125℃下1000小時(shí)耐久性測(cè)試,計(jì)算激活能評(píng)估失效模式
4. 失效分析:采用TDR時(shí)域反射法定位內(nèi)部短路點(diǎn),結(jié)合紅外熱成像進(jìn)行故障定位
? MIL-PRF-55365H:美軍標(biāo)對(duì)鉭電容器的通用規(guī)范要求
? IEC 60384-15:國(guó)際電工委員會(huì)固體電解電容器標(biāo)準(zhǔn)
? GB/T 7332-2011:中國(guó)國(guó)家電容測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)
? EIA-535BAAC:電子工業(yè)協(xié)會(huì)鉭電容器應(yīng)用指南
? JIS C5102-1994:日本工業(yè)規(guī)格試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
1. 預(yù)處理要求:樣品需在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下靜置24小時(shí)消除存儲(chǔ)影響
2. 測(cè)試電壓選擇:不超過額定電壓的1.1倍,避免介質(zhì)擊穿
3. 漏電流測(cè)量:施加額定電壓60秒后讀取穩(wěn)定值
4. 失效判定準(zhǔn)則:容量變化超過±10%、DF值上升50%或漏電流超標(biāo)均視為失效
5. 數(shù)據(jù)記錄規(guī)范:需記錄環(huán)境溫濕度、儀器校準(zhǔn)日期等關(guān)鍵元數(shù)據(jù)
證書編號(hào):241520345370
證書編號(hào):CNAS L22006
證書編號(hào):ISO9001-2024001
版權(quán)所有:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所京ICP備15067471號(hào)-33免責(zé)聲明