您現(xiàn)在的位置：首頁 > 檢測項目 > 其他檢測

法向發(fā)射率檢測

1對1客服專屬服務(wù)，免費制定檢測方案，15分鐘極速響應(yīng)

可選形式：電子報告紙質(zhì)報告

可選語言：中文報告英文報告

發(fā)布時間：2025-07-25 15:38:45 更新時間：2025-07-24 15:38:45

點擊：0

作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

法向發(fā)射率檢測

法向發(fā)射率（Normal Emissivity）是衡量材料表面在垂直方向（法向）上輻射熱能能力的核心物理參數(shù)，定義為在相同溫度下，材料表面法向輻射強度與同溫度下黑體輻射強度之比。它在太陽能吸收/反射系統(tǒng)、航空航天熱控涂層、建筑材料節(jié)能評估、紅外隱身技術(shù)及工業(yè)爐窯熱效率計算等領(lǐng)域具有關(guān)鍵應(yīng)用價值。精確測定法向發(fā)射率對于材料的熱性能表征、產(chǎn)品設(shè)計優(yōu)化及能效標(biāo)準(zhǔn)制定至關(guān)重要。其值范圍通常在0（理想鏡面反射體）至1（理想黑體）之間，受材料成分、表面形貌、溫度及波長等因素顯著影響。

主要檢測項目

法向發(fā)射率檢測的核心項目包括但不限于：

法向光譜發(fā)射率： 測量特定波長（如紅外波段）下的發(fā)射率，反映材料在特定光譜區(qū)的輻射特性。
法向全發(fā)射率（全波段積分發(fā)射率）： 對特定溫度下整個熱輻射波段（通常指紅外波段）的發(fā)射率進(jìn)行積分平均，表征材料在工程應(yīng)用中的整體熱輻射能力。
溫度依賴性測試： 研究發(fā)射率隨材料表面溫度變化的規(guī)律，這對高溫應(yīng)用尤為重要。
表面狀態(tài)影響分析： 評估氧化、污染、涂層老化、機械損傷等對發(fā)射率的影響。

核心檢測儀器

法向發(fā)射率的精確測量依賴于先進(jìn)的專用儀器：

傅里葉變換紅外光譜儀： 結(jié)合發(fā)射率測量附件（如高溫樣品腔、反射鏡系統(tǒng)），是測量法向光譜發(fā)射率的主力設(shè)備。通過測量樣品自身的熱輻射光譜并與參考黑體比較，計算得到光譜發(fā)射率。
輻射計/發(fā)射率測量儀： 專門設(shè)計的儀器，通常包含可控溫的樣品臺、精確對準(zhǔn)的光學(xué)系統(tǒng)、紅外探測器和參考黑體，可直接測量特定溫度下特定波長范圍或?qū)挷ǘ蔚姆ㄏ虬l(fā)射率。
紅外熱像儀（校準(zhǔn)后用于定量分析）： 可用于快速掃描或評估大面積表面的發(fā)射率分布，但精度通常低于專用光譜儀或輻射計，需配合精確的黑體參考源和表面溫度測量。
積分球反射計： 對于低溫或室溫樣品，可通過測量法向-半球反射率ρ(λ,θ=0)并利用基爾霍夫熱輻射定律（ε = 1 - ρ, 對于不透明材料）間接計算法向發(fā)射率。

所有儀器在使用前和使用過程中都需要進(jìn)行嚴(yán)格校準(zhǔn)，通常使用經(jīng)過計量認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源作為參考。

常用檢測方法

根據(jù)測量原理和儀器不同，主要方法有：

直接輻射測量法（卡計法）： 樣品被加熱至穩(wěn)定溫度，使用輻射計直接測量樣品在法向方向發(fā)出的熱輻射能量，同時測量樣品表面真實溫度，并與同溫度下黑體的理論輻射能量比較，計算得到發(fā)射率。這是最基本且直接的方法，尤其適用于高溫測量。
反射率法（間接法）： 對于不透明材料，測量其在法向入射光照射下的法向-半球反射率（通常使用積分球系統(tǒng)）。根據(jù)能量守恒和基爾霍夫定律（在熱平衡狀態(tài)下，α = ε），對于不透明表面，其法向發(fā)射率ε_n = 1 - ρ_n-h (法向-半球反射率)。此方法常用于中低溫材料。
比較法： 將待測樣品與已知發(fā)射率的參考樣品（或標(biāo)準(zhǔn)板）置于相同環(huán)境、相同溫度下，同時測量兩者在法向方向的熱輻射信號強度，通過比較計算待測樣品的發(fā)射率。對測量環(huán)境的穩(wěn)定性和參考樣品的準(zhǔn)確性要求很高。
光譜法： 利用FTIR光譜儀或?qū)Ｓ霉庾V輻射計，測量樣品在法向方向的熱輻射光譜L_sample(λ, T)，同時精確測量樣品表面溫度T。利用普朗克黑體輻射公式計算同溫度黑體在相同波長的輻射光譜L_bb(λ, T)，則法向光譜發(fā)射率ε_n(λ, T) = L_sample(λ, T) / L_bb(λ, T)。全發(fā)射率需對光譜發(fā)射率在目標(biāo)波段進(jìn)行積分。

關(guān)鍵檢測標(biāo)準(zhǔn)

為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性，法向發(fā)射率檢測需遵循相關(guān)國際、國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM E423 - 71(2020)： 《不透明材料法向光譜發(fā)射率的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》 - 詳細(xì)規(guī)定了使用比較法光譜反射計（通常配合積分球）在室溫下測量法向光譜發(fā)射率的程序。
ASTM C1371 - 15(2022)： 《使用卡計和高溫計測量表面法向總發(fā)射率的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》 - 適用于高溫（通常>100°C）下測量不透明固體材料在法向方向上的全發(fā)射率（總發(fā)射率）。
ISO 1853： 《表面法向發(fā)射率的測定》 - 國際標(biāo)準(zhǔn)，內(nèi)容涵蓋不同溫度范圍的測量方法。
GB/T 10295： 《絕熱材料穩(wěn)態(tài)熱阻及有關(guān)特性的測定熱流計法》等中國國家標(biāo)準(zhǔn)中，也可能包含相關(guān)材料發(fā)射率測試的參考方法或要求。
行業(yè)/客戶特定標(biāo)準(zhǔn)： 航空航天（如NASA， ESA）、太陽能（如ISO 22975）、建筑節(jié)能等領(lǐng)域常有針對特定材料和應(yīng)用場景的更詳細(xì)測試規(guī)范。

重要注意事項： 測量法向發(fā)射率時，必須嚴(yán)格控制樣品表面溫度（均勻性和準(zhǔn)確性）、環(huán)境溫度、儀器視場角、探測方向（嚴(yán)格法向）、背景輻射干擾以及樣品表面的清潔度。任何偏離標(biāo)準(zhǔn)測試條件的情況都應(yīng)在報告中明確說明。