瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度-拋負(fù)載檢測:保障電子設(shè)備可靠運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)
在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用中,瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度(Transient Conductive Immunity)是評估設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行能力的重要指標(biāo)之一。其中,拋負(fù)載檢測(Lo" />

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