插頭低溫沖擊檢測(cè)是一種關(guān)鍵的可靠性測(cè)試項(xiàng)目,主要用于評(píng)估插頭在低溫環(huán)境下承受機(jī)械沖擊時(shí)的耐用性和結(jié)構(gòu)完整性。這項(xiàng)測(cè)試模擬了插頭在寒冷氣候或極端溫度條件下可能遭遇的物理沖擊,例如運(yùn)輸過" />

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