輸入端反射損耗檢測(cè)
輸入端反射損耗檢測(cè)是一項(xiàng)關(guān)鍵的技術(shù)測(cè)試,主要用于評(píng)估電子設(shè)備、通信系統(tǒng)或射頻組件在輸入端口對(duì)信號(hào)反射的抑制能力。反射損耗,通常以分貝(dB)為單位,反映了輸入端口與傳輸線之間的阻抗匹配程度" />

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