射頻輸出功率偏差檢測(cè)是射頻設(shè)備性能評(píng)估中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),主要用于衡量設(shè)備實(shí)際輸出功率與標(biāo)稱或設(shè)定功率之間的差異。通常,這種偏差可能是由于元器件老化、環(huán)境溫度變化或電源波動(dòng)等因素引起的" />

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