溫度循環(huán)泄漏試驗(yàn)是一種重要的環(huán)境可靠性測試方法,主要用于評估產(chǎn)品(如密封組件、電子設(shè)備、包裝容器等)在溫度急劇變化條件下的密封性能和結(jié)構(gòu)完整性。該試驗(yàn)通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用或運(yùn)輸過程中" />

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