微透鏡單點(diǎn)附加頂焦度檢測(cè)是一種應(yīng)用于精密光學(xué)元件領(lǐng)域的專業(yè)檢測(cè)技術(shù),主要用于評(píng)估微透鏡或類似光學(xué)元件的附加頂焦度性能。附加頂焦度是指透鏡在特定位置(通常是中心或關(guān)鍵點(diǎn))所增加的屈光" />

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