鋁基涂碳材料針孔缺陷檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-07 09:58:15 更新時(shí)間:2025-05-13 17:38:23
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
鋁基涂碳材料(如 鋰電池集流體鋁箔涂碳層、防腐導(dǎo)電涂層)的針孔缺陷主要由以下因素引發(fā):
檢測(cè)方法 | 適用場(chǎng)景 | 分辨率/精度 | 優(yōu)缺點(diǎn) |
---|---|---|---|
掃描電鏡(SEM) | 實(shí)驗(yàn)室抽樣檢測(cè),分析微米級(jí)針孔 | 0.1μm(高真空模式) | 高精度、需鍍金、速度慢 |
激光共聚焦顯微鏡 | 三維表面重建,量化針孔深度 | 縱向分辨率0.01μm | 非接觸、適合小面積精細(xì)分析 |
光學(xué)顯微鏡+AI圖像處理 | 在線快速篩查,統(tǒng)計(jì)針孔密度 | 5μm(自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)) | 高效、成本低、依賴算法優(yōu)化 |
檢測(cè)方法 | 檢測(cè)原理 | 判定標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)備推薦 |
---|---|---|---|
方阻測(cè)試 | 四探針?lè)y(cè)量涂層電阻均勻性 | 方阻波動(dòng)≤±5%(同一批次) | 四探針測(cè)試儀(Loresta GX) |
局部電化學(xué)阻抗譜(LEIS) | 微區(qū)阻抗映射針孔位置 | 針孔區(qū)域阻抗下降≥50% | 掃描電化學(xué)工作站(BioLogic M470) |
檢測(cè)方法 | 技術(shù)特點(diǎn) | 適用場(chǎng)景 | 設(shè)備推薦 |
---|---|---|---|
太赫茲成像 | 穿透涂層檢測(cè)基材界面缺陷 | 檢測(cè)隱藏針孔(未貫穿涂層) | Terahertz TDS系統(tǒng)(TeraPulse 4000) |
紅外熱成像 | 加熱后溫差反映針孔散熱差異 | 快速在線檢測(cè)(大面積篩查) | FLIR A700紅外熱像儀 |
檢測(cè)方案 | 核心設(shè)備 | 成本估算(萬(wàn)元) | 適用場(chǎng)景 |
---|---|---|---|
實(shí)驗(yàn)室精密分析 | SEM(日立SU5000)+ 共聚焦顯微鏡 | 300-500 | 研發(fā)階段、失效分析 |
產(chǎn)線在線檢測(cè) | 光學(xué)AI檢測(cè)系統(tǒng) + 四探針儀 | 80-120 | 大批量生產(chǎn)質(zhì)量控制 |
無(wú)損巡檢 | 太赫茲成像儀 + 紅外熱像儀 | 150-200 | 隱蔽缺陷排查與定期維護(hù) |
通過(guò)多技術(shù)融合(形貌觀測(cè)+電學(xué)驗(yàn)證+無(wú)損篩查),可精準(zhǔn)定位鋁基涂碳針孔缺陷,結(jié)合 AI算法優(yōu)化 與 工藝參數(shù)閉環(huán)控制,實(shí)現(xiàn) 缺陷率降低至≤0.1%,提升產(chǎn)品可靠性與良率。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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