激光器檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-25 15:16:01 更新時(shí)間:2025-05-13 17:46:52
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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檢測(cè)項(xiàng)目 | 方法及標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)備/指標(biāo) |
---|---|---|
輸出功率 | 激光功率計(jì)(ISO 11554) | 功率偏差≤±5%(如標(biāo)稱(chēng)100W,實(shí)測(cè)95-105W) |
波長(zhǎng)與光譜寬度 | 光譜分析儀(ISO 11151) | 波長(zhǎng)偏差±2nm(如1064nm激光),光譜寬度≤3nm |
光束質(zhì)量(M²因子) | 光束分析儀(ISO 11146) | M²≤1.3(單模光纖激光器) |
發(fā)散角 | 準(zhǔn)直儀+CCD相機(jī)(ISO 11670) | 發(fā)散角≤1mrad(工業(yè)切割激光) |
檢測(cè)項(xiàng)目 | 方法及標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)備/指標(biāo) |
---|---|---|
絕緣電阻 | 絕緣電阻測(cè)試儀(GB 4793.1) | ≥100MΩ(輸入-外殼間) |
漏電流 | 漏電流測(cè)試儀(IEC 60601-1) | ≤0.5mA(醫(yī)用激光設(shè)備) |
接地連續(xù)性 | 接地電阻測(cè)試儀(GB 9706.1) | 接地電阻≤0.1Ω |
檢測(cè)項(xiàng)目 | 方法及標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)備/指標(biāo) |
---|---|---|
高溫/低溫工作 | 恒溫箱測(cè)試(GB/T 2423.1/2) | -20℃~+50℃連續(xù)運(yùn)行4h,功率波動(dòng)≤±3% |
振動(dòng)與沖擊 | 振動(dòng)臺(tái)+沖擊試驗(yàn)機(jī)(GB/T 2423.10) | 10-500Hz隨機(jī)振動(dòng),功率無(wú)跳變 |
濕熱老化 | 濕熱試驗(yàn)箱(GB/T 2423.3) | 40℃/93%RH×48h,絕緣電阻≥10MΩ |
檢測(cè)項(xiàng)目 | 方法及標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)備/指標(biāo) |
---|---|---|
加速壽命試驗(yàn) | 高溫高負(fù)荷循環(huán)(IEC 62059) | 1000h連續(xù)運(yùn)行,功率衰減≤5% |
開(kāi)關(guān)機(jī)循環(huán) | 通斷測(cè)試(GB/T 2423.34) | 10000次開(kāi)關(guān)機(jī),無(wú)啟動(dòng)失敗或性能劣化 |
冷卻系統(tǒng)效能 | 熱成像儀+流量計(jì)(ISO 11553) | 散熱器溫升≤20℃(滿(mǎn)負(fù)荷運(yùn)行) |
預(yù)檢與校準(zhǔn)
輸出功率測(cè)試(示例)
光束質(zhì)量M²因子測(cè)試
問(wèn)題 | 原因分析 | 解決方案 |
---|---|---|
功率不穩(wěn)定 | 電源波動(dòng)或散熱不良 | 更換穩(wěn)壓電源,優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)(銅基板+液冷) |
波長(zhǎng)漂移 | 溫度控制失效或LD老化 | 升級(jí)TEC溫控精度(±0.1℃),更換激光二極管 |
光束模式劣化 | 光學(xué)元件污染或光路偏移 | 清潔鏡片,重新校準(zhǔn)光路(自動(dòng)化六軸調(diào)整臺(tái)) |
安全鎖失效 | 互鎖開(kāi)關(guān)磨損或電路故障 | 采用冗余安全電路,定期功能測(cè)試(每月一次) |
案例名稱(chēng):光纖激光器切割頭功率衰減
通過(guò)系統(tǒng)性檢測(cè)與工藝優(yōu)化,激光器的輸出穩(wěn)定性、安全性及環(huán)境適應(yīng)性可全面提升,為精密加工、醫(yī)療手術(shù)及光通信提供高可靠性的核心光源保障。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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